Hızlı ve doğru bir şekilde nano ölçekli kaplama analizi

FT160'ıMasa MasasıXRF'ninAnalizörler bugün ölçemek için tasarlanmıştırPCB'ninYarı iletkenler ve mikro konektörlerdeki küçük parçalar. Küçük parçaların doğru ve hızlı bir şekilde ölçülmesi, verimliliği arttırmaya ve pahalı yeniden işleme veya parçaların atılmasını önlemeye yardımcı olur.

FT160'ıPolikapilar optik bileşenleri daha az ölçülebilir50 μm'likNano ölçekli kaplama ile özelleştirilen gelişmiş detektör teknolojisi, kısa ölçüm süresini korurken size yüksek hassasiyet sağlar. Büyük örnek masaları, geniş örnek kapıları, yüksek çözünürlüklü örnek kameraları ve sağlam gözlem pencereleri gibi diğer özellikler, farklı boyutlardaki eşyaları kolayca yükleyebilir ve büyük substratlarda ilgi alanlarını bulabilir. Analizör kullanımı kolay ve sizinQA / QCSüreçler sorunsuz bir şekilde entegre edilir ve sorun krizi oluşmadan önce sizi hatırlatır.

Ürün Özellikleri

FT160'ıOptik ve detektör teknolojileri, mikroplak ve ultra ince kaplama analizi için tasarlanmıştır ve en küçük özellikler için optimize edilmiştir.

Analizleri güvenli mesafeden görüntülemek için büyük gözlem penceresi

Ölçüm yöntemi uyumluISO 3497 standartıveASTM B568 standartıveDIN 50987 standartıStandart

IPC-4552B'ninveIPC-4553A'nınveIPC-4554veIPC-4556Uyumluluk Kaplama Testi

Hızlı örnek ayarları için otomatik özellik konumlandırma

Uygulamanız için optimize edilmiş analizör yapılandırma seçenekleri

Daha az50 μm'likÖzellikleri üzerinde nano ölçekli kaplama ölçümü

Geleneksel aletlerin analiz akışını iki katına çıkarın

Çeşitli şekillerde büyük örnekler

Uzun vadeli üretim için dayanıklı tasarım