Hedef filmin ** yansıtıcılığını ölçeyin, yüksek hassasiyetli film kalınlığı ve optik sabitleri ölçeyin! Temassız · Zarar vermeyen · Mikroskopik

Ölçüm süresi sadece 1 saniye!

Diferensial optik film kalınlığı ölçevleri (OPTM serisi), yüksek hassasiyetli film kalınlığı / optik sabit analizi için küçük alanlarda ** yansıtma oranı ile mikrospektroskopi kullanarak ölçülmektedir. Çeşitli filmler, çipler, optik malzemeler ve çok katmanlı filmler gibi kaplama filmlerinin kalınlığını yıkıcı olmayan ve temas olmayan yollarla ölçün. Ölçüm süresinde 1 saniye / nokta yüksek hızlı ölçüm ve ilk kullanıcı bile optik sabitleri analiz etmek için kolay bir yazılım ile donatılmıştır

Ürün Özellikleri:

• Kafa, ince film kalınlığı ölçümü için gerekli fonksiyonları entegre eder

• Yüksek hassasiyetli mikrospektroskopi ile ** yansıtıcı ölçüm (çok katmanlı film kalınlığı, optik sabit)

• 1.1 saniye yüksek hızlı ölçüm

• Farklılık ışığı altında geniş bir optik sistem (UV*** yakın kızılötesi)

• Bölge sensörlerinin güvenlik mekanizmaları

• Kolay analiz sihirbazı, yeni başlayanlar da optik sabit analizi yapabilirler

• Çeşitli inline özelleştirme ihtiyaçlarına uygun bağımsız ölçüm kafası

• Çeşitli özelleştirmeleri destekler

Ölçüm projeleri:

• ** Yansıtma ölçümü

• Çok Katmanlı Membran Analizi

• Optik sabit analizi (n: kırılma oranı, k: ışık tükenme katsayısı)

Uygulama:

• Yarı iletken: wafer örneklerinin otomatik ayarlanması, wafer bükülmesi tespiti

• Optik bileşenler: lens lenslerinin radyolajı, bükülmesi vb. tespiti

Ürün Özellikleri：